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Transmissionselektronenmikroskop
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JEOL NEOARM 200F Transmissionselektronenmikroskop
gefördert durch DFG (Inst 275/391-1)

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Beschleunigungsspannung 80kV und 200kV
Elektronenquelle kalter Feldemitter
Auflösung  TEM 2,3 Å @ 200kV,
STEM 1 Å @ 200kV

Zusätzliche Ausstattung:
  • STEM Aberrationskorrektor (atomare Auflösung < 1 Å in STEM HAADF)
  • EELS and EDS (atomare Auflösung)
  • Doppelkipphalter
  • Doppelkipp-Heizhalter (DensSolution) bis zu 1300ºC
  • 4k CMOS Kamera (Gatan OneView)

Analyse:
  • EDX Double SDD (JEOL Centurio)
    • Zählraten bis zu 100 000 cts/s
    • Auflösung (122eV at Mn Kα)
  • EEL Spektrometer (Gatan Continuum), Auflösung < 0.3eV
  • STEM (< 1 Å in STEM HAADF) mit folgenden Detektoren
    • Bright field (BF)
    • Annular Bright Field (ABF)
    • Annular Dark Field (ADF)
    • Additional SE/BSE detectors
  • 4D STEM- Beugungsmapping mit STEM X (bis zu 300 frames/s)
  • Beugung (CBD and NBD)


TEM-Probenpräparation:
  • Zugang zum FEI Helios NanoLab 600i fokussierter Ionenstrahl System (FIB) der AG Prof. Carsten Ronning (IFK)
  • Ionenstrahlpolitur: Leica RES 101
  • Elektrolytstrahlpolitur: Struers TenuPol-5

Nutzerordnung für das Transmissionselektronenmikroskop
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